Máy kiểm tra hệ số ma sát

  • Máy đo hệ số ma sát trượt COF được thiết kế kiểm tra các đặc tính ma sát của bề mặt vật liệu
  • Thiết kế với quả quả trượt 200g, tốc độ trượt cố đinh
  • Phần mềm đầy đủ tính năng tự động tính toán cho kết quả chính xác
So Sánh

Mô tả

Máy kiểm tra hệ số ma sát

Máy kiểm tra hệ số ma sát

Model: MXD – 01A

Hãng sản xuất: Labthink – China

– Máy kiểm tra hệ số ma sát dùng để xác định hệ số ma sát tĩnh và động trên bề mặt vật liệu

– Máy kiểm tra hệ số ma sát đáp ứng yêu cầu kiểm tra ma sát trong các ngành nghề

– Máy được dùng đo độ mịn của mỹ phẩm, thuốc nhỏ mắt và các sản phẩm khác. 

– Máy kiểm tra hệ số ma sát MXD – 01A có tốc độ cố định 150mm/min, quả trượt 200g cùng phần mềm tự động tính toán kết quả  

Ứng dụng máy kiểm tra hệ số ma sát

– Máy kiểm tra hệ số ma sát dùng trong các thí nghiệm:

       + Đo hệ số ma sát động

       + Đo ma sát tĩnh trên màng nhựa, lá kim loại giấy, các loại vật liệu khác cần gạt nước.…..

Thông số kỹ thuật máy kiểm tra hệ số ma sát

– Dải kiểm tra hệ số ma sát: 0 ~ 5N

– Độ chính xác của máy kiểm tra hệ số ma sát: ±1% giá trị đọc

– Hành trình: ≥130mm

– Khối lượng quả trượt ma sát: 200g 

– Tốc độ kiểm tra: 150mm/phút

– Môi trường làm việc máy kiểm tra hệ số ma sát:

     + Nhiệt độ: 10 ~ 40oC

     + Độ ẩm: 20 ~ 70%

– Nguồn điện: AC 220V, 50/60Hz

– Khối lượng: 31kg

– Máy kiểm tra hệ số ma sát được tích hợp sẳn máy in (micro Printer)

– Máy kiểm tra hệ số ma sát MXD – 01A phù hợp với tiêu chuẩn kiểm tra ASTM D1894.

Cung cấp máy kiểm tra hệ số ma sát

     + Máy chính, máy in Micro (tích hợp vào máy chính), đầu trượt, hướng dẫn sử dụng….

Phụ kiện chọn thêm cho máy kiểm tra hệ số ma sát

      + Đầu trượt 500g, máy tính, phần mềm kết nối máy tính, cáp nối …..

Khách hàng xem thêm tại đây

Đánh giá

Chưa có đánh giá nào.

Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy kiểm tra hệ số ma sát”

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *

This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.